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Ingeniería Electrónica
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25Ene
Técnica de medición de la resistencia en semiconductores
Los ingenieros del Instituto Nacional de Estándares y Tecnología (NIST) han desarrollado un método para medir la dureza y la resistencia a la fractura de las capas finas de aislamiento que desempeñan un papel crítico en el alto rendimiento de
Leer más →Por Julio González en Electrónica No hay comentarios todavía -
28Ago
Imágenes 3-D mediante sondas de ultrasonido
Los ingenieros de la Universidad de Duke en Estados Unidos, han diseñado y fabricado una sonda de ultrasonido que es lo suficientemente poderosa como para proporcionar imágenes muy detalladas en tres dimensiones, propiciando que los médicos cuenten en tiempo real
Leer más →Por Eugenio Rodríguez en Bioingeniería 2 Comentarios »








